300nm氮化硅光电子工艺    

        (CSiN300)

可提供的器件

条形波导

传输损耗 < 0.2 dB/cm

端面耦合器

耦合损耗 < 2.5 dB/facet

耦合光栅

耦合损耗 < 5.5 dB/facet

MM1x2

额外损耗 < 0.3 dB

MM2x2

额外损耗 < 0.7 dB

Metal heater

Pπ < 200 mW

CUMEC 可提供 Si3N工艺流片服务,涵盖器件与版图设计、流片、测试及封装等,用户可根据需求选择相应的服务。

 

CUMEC氮化硅工艺基于200mm CMOS工艺,采用180nm工艺节点,在硅晶圆上制备300nm厚度的 Si3N无源器件,包括:

  - 光波导

  - 耦合光栅

  - 端面耦合器

  - MMI/AWG/Ring…

  - 热光移相器

  - …

 

 

目前可选择的流片工艺:

 

  - SiN刻蚀,NFE:300nm Si3N4刻蚀,可用于波导器件;

  - 端面刻蚀:硅槽刻蚀深度120um,可用于端面耦合器等器件;

  - 金属电极:M1 heater

 

 

PDK获取

1. 请下载 CUMEC NDA 文件,并完成信息填写和签署。

2. 请将扫描件发送至service@cumec.cn

工作人员将在3个工作日内完成NDA文件的审核和反馈,并发送PDK到注册邮箱。