300nm氮化硅光电子工艺
(CSiN300)
可提供的器件
条形波导
传输损耗 < 0.2 dB/cm
端面耦合器
耦合损耗 < 2.5 dB/facet
耦合光栅
耦合损耗 < 5.5 dB/facet
MM1x2
额外损耗 < 0.3 dB
MM2x2
额外损耗 < 0.7 dB
Metal heater
Pπ < 200 mW
CUMEC 可提供 Si3N4 工艺流片服务,涵盖器件与版图设计、流片、测试及封装等,用户可根据需求选择相应的服务。
CUMEC氮化硅工艺基于200mm CMOS工艺,采用180nm工艺节点,在硅晶圆上制备300nm厚度的 Si3N4 无源器件,包括:
- 光波导
- 耦合光栅
- 端面耦合器
- MMI/AWG/Ring…
- 热光移相器
- …
目前可选择的流片工艺:
- SiN刻蚀,NFE:300nm Si3N4刻蚀,可用于波导器件;
- 端面刻蚀:硅槽刻蚀深度120um,可用于端面耦合器等器件;
- 金属电极:M1 heater
PDK获取
1. 请下载 CUMEC NDA 文件,并完成信息填写和签署。
2. 请将扫描件发送至service@cumec.cn
工作人员将在3个工作日内完成NDA文件的审核和反馈,并发送PDK到注册邮箱。
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- 2022-01-27
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- 2020-06-03